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オールドライプロセスによるMEMSガスセンサの試作と評価

机译:旧李工艺对MEMS气体传感器的原型和评价

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摘要

半導体式ガスセンサは、他方式に比べて微量のガスで高感度に検知できることから、各種ガスセンサ、特にガス警報用のガスセンサとして使用されてきた。ところが、SnO_x 等の半導感ガス材料を駆動させるためには、300~600°Cの加熱をする必要があり、他方式に比べて小型化·低消費電力化をするのが困難であった。これらのガスセンサをより小型化·低消費電力化するためには、薄膜ヒータと感ガス膜をシリコン基板から熱絶縁してMEMSセンサ構造にすることが有効であることが知られていて、様々の構造のMEMSガスセンサが提案されてきた。従来のMEMSガスセンサは、湿式の異方性エッチング法によりシリコン基板を除去して、薄膜メンブレン上に薄膜ヒータと感ガス膜を形成していた。この異方性エッチング法では、シリコンのエッチング側壁が55。の稜線角で形成されるために、表面のメンブレンに対して裏面の貫通口は大きくなり、メンブレンをアレイ化した時に有効面積が減少して小型化が困難であるという問題があった。
机译:由于与其他方法相比,半导体气体传感器可以对具有少量气体的高灵敏度敏感,因此,各种气体传感器,特别是用于气体警报的气体传感器。然而,为了驱动一个半导体气体材料,例如SnO_x,有必要进行加热300〜600℃,并且难以减少的小型化和低功耗与其它方法相比。为了减少这些气体传感器以进一步小型化和低功耗,已知的是,所述薄膜加热器和所述敏感气膜被热从硅衬底,使MEMS传感器结构有效绝缘,并与结构的各种MEMS气体传感器具有已提出。在常规的MEMS气体传感器,通过湿法各向异性蚀刻法除去所述硅衬底,以形成薄膜加热器和在该薄膜上的膜敏感气体膜。在这种各向异性蚀刻方法中,硅蚀刻侧壁是55。为了形成在脊的角度,整个后表面变大,并且当膜被排列时,减少有效面积并且小型化难以。

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