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先端的難加工基板の高効率精密加工法の研究(第2報)-疑似ラジカル場を想定した加工変質層の形成によるPCVM加工速度の増大

机译:假设伪自由基场的加工学位层,PCVM处理速度高效精密加工方法 - PCVM处理速度的高效精密加工方法

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摘要

第1報で述べたように,本研究の最終目的は,半導体ダイヤモンド基板を主対象として,微小欠陥種(疑似ラジカル場)の形成法を検討するとともに,加工環境コントロール型密閉式研磨法とPCVM(Plasma Chemical Vaporization Machining)法を融合させた“革新的密閉式CMP/PCVM融合装置”を提案し,高能率高品位面加工法を開発することである.PCVMは大気圧プラズマを用いたプラズマエッチングである.高密度中性ラジカルによる高能率エッチングが可能であり,イオンの運動エネルギーが小さく加工面にイオン照射損傷をもたらさない,等の特徴を有している.PCVMによってSiCやGaNといった先端的難加工基板に対しても高いエッチングレートが確認されているが,中性ラジカルによる等方性エッチングであるため積極的な平坦化作用は無く,高能率に平坦化を行うことは原理的に困難である.そこで,本研究で提案しているように,何らかの方法で除去したい部分のみに疑似ラジカル場を形成することで,その部分の選択的エッチングにより,高能率高品位加工が実現できると考えられる.本報では,基礎検討としてSiC基板を用い,疑似ラジカル場を想定した加工変質層の有無によるPCVM加工速度の変化を調査した結果について述べる.
机译:如在第一报告中所描述的,本研究的最终目的是要考虑形成细石器阶段(伪自由基字段)作为半导体金刚石基体的主要目标,和处理环境控制型的方法封闭抛光和PCVM它是提出一种“创新封闭式CMP / PCVM融合装置”,结合了等离子化学汽化加工方法,开发了一种高效率的高质量表面处理方法。 PCVM是使用大气压等离子体的等离子体蚀刻。高效率与高密度中性基蚀刻是可能的,和离子的动能小,并且处理用面不会导致离子照射的损害。尽管高的蚀刻率也证实先进难以处理衬底例如SiC或GaN,但是通过中性自由基各向同性蚀刻,不存在正的平坦化效果,并且高效率被平坦化。这在原则上是很难做到的。因此,如在本研究提出,它被认为是高效率的高品质的加工可以通过所述部分的选择性蚀刻通过仅在一部分上形成伪自由基字段被任何方法来去除来实现。在本报告中,我们描述了由于使用伪自由基场使用伪自由基作为基本研究,因此通过使用SiC衬底的处理或不存在的PCVM处理速度的调查结果。

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