X線回折法による微小領域の測定と解析

摘要

今から遡る事約120年前の1895年にドイツの物理学者のWilhelm Conrad RontgenがX線を発見してその功績により1901年ノーベル物理学賞を受賞した。1910年代初頭にMax vonLaueが結晶による回折現象を発見し、さらにBragg父子がⅩ緑回折法の基礎となるBraggの条件式を提示し、相次いで物理学賞を受賞して近代結晶学が誕生した。X線回折法は、その後今日に至るまで目覚しい発展を遂げ、各種の材料開発に貢献してきた。