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第一章绪论
1.1 X射线多晶衍射研究的发展
1.2 X射线衍射物相定性分析
1.2.1 X射线衍射法物相定性分析原理
1.2.2传统物相定性分析方法
1.2.3全谱匹配物相定性分析
1.2.4 X射线衍射定性分析的特点
1.3 X射线衍射物相定量分析
1.3.1 X射线定量相分析原理
1.3.2 X射线定量相分析法
1.3本文的研究设想
1.3.1研究意义
1.3.2研究内容
第二章Rietveld方法研究
2.1前言
2.2全谱拟合的原理
2.2.1各衍射峰20位置的计算
2.2.2衍射峰的结构因子和强度分布的计算
2.2.3整个衍射谱的计算
2.2.4用最小二乘法作拟合
2.2.5拟合优劣的判断
2.3峰形函数Gk
2.4峰宽函数Hk
2.5本底函数Yib
2.6择优取向校正
2.7代码系统
2.8 Rietveld方法的应用
2.9小结
第三章Rietveld全谱图拟合法测定模拟粉尘样品物相含量的研究
3.1前言
3.2实验准备
3.2.1试样制备
3.2.2测定条件的选择
3.2.3数据处理
3.3四元混合模拟粉尘样品物相含量的测定
3.3.1实验试样与仪器
3.3.2样品的处理
3.3.3衍射仪工作条件
3.3.4结果与讨论
3.4五元混合模拟粉尘样品物相含量的测定
3.4.1实验试样与仪器
3.4.2样品的处理
3.4.3衍射仪工作条件
3.4.4结果与讨论
3.5六元混合模拟粉尘样品物相含量的测定
3.5.1实验试样与仪器
3.5.2样品的处理
3.5.3衍射仪工作条件
3.5.4结果与讨论
3.6小结
第四章Rietveld全谱图拟合法测定非晶相含量的研究
4.1前言
4.2实验部分
4.2.1实验试样与仪器
4.2.2样品的处理
4.2.3衍射仪工作条件
4.2.4结果与讨论
4.2.5精密度实验
4.3小结
第五章Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离S102含量的研究
5.1前言
5.2实验部分
5.2.1实验试样与仪器
5.2.2样品的处理
5.2.3衍射仪工作条件
5.2.4结果与讨论
5.2.5回收率的测定
5.3小结
第六章结论
参考文献
致谢
攻读学位期间发表论文情况
广西大学;