failure prognostics; health monitoring; multilayer ceramic capacitor;
机译:多层陶瓷电容器中银迁移与温度-湿度-偏压(THB)故障的相关性
机译:多层陶瓷电容器的低压故障:新的加速应力屏蔽
机译:通过参数残差对多层陶瓷电容器的预测
机译:温度湿度偏置条件下多层陶瓷电容器失效预测
机译:挠曲裂纹和温度-湿度-偏压对多层陶瓷电容器可靠性的影响。
机译:X7R多层陶瓷电容器在高加速寿命测试(HALT)期间的可靠性
机译:多层陶瓷电容器在短暂高冲击下的故障机理
机译:BaTiO3基多层陶瓷电容器失效机理的几个方面。