磁場スイープ(Magnetic Field Sweep（MFS））--MFM測定法の開発

机译：磁场扫描（磁场扫描（MFS）） - MFM测量方法的开发

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微小な磁性ドット·磁性細線はバルクや薄膜とは異なる磁気特性を示すことが知られている．この特異な磁気特性を詳細に理解するためには，ドット·細線の磁化測定法の開発が重要である．

机译：已知磁性点和磁性细线具有来自体积和薄膜的不同磁性。为了详细了解这种独特的磁特性，点的开发和磁化的薄分布很重要。

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来源
《日本金属学会大会》|2007年||共1页
会议地点
作者
遠藤恭; 藤本英樹; 熊野愼也;
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正文语种
中图分类 TF-532;
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