wavelength shifting interferometer(WSI); phase change; sinusoidal function fitting; measurement; ball grid array(BGA);
机译:用于大视野和快速扫描的横向扫描线性干涉法:晶圆碰撞检测
机译:高分辨率AFM扫描莫尔方法及其在BGA电子封装中的微变形中的应用
机译:使用扫描声显微镜对微电子封装进行表征
机译:使用波长扫描干涉仪的微电子BGA封装检查系统
机译:使用波长扫描干涉仪的绝对距离(厚度)度量衡。
机译:垂直扫描干涉法中双波长白色LED的新型表面恢复算法(VSI)
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机译:使用光学干涉法和扫描电子显微镜检查化学粗糙铜表面:建立表面形态和可焊性之间的相关性