x-ray scattering; critical dimension; line wedth; line grating; sidewall angle;
机译:相干在二维密集单分散系统衍射图谱互相关分析中的作用
机译:IC图案变化的控制,第1部分:度量衡,过程监控和关键尺寸控制
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机译:横截面和临界尺寸计量与CD-SAXS密集的高纵横比模式
机译:先进半导体制造的临界尺寸小角X射线散射计量学评估。
机译:相干在二维密集单分散系统衍射图谱互相关分析中的作用
机译:连贯性在互相关分析中的作用 来自二维致密单分散系统的衍射图案
机译:使用临界尺寸原子力显微镜的纳米级轮廓测量策略