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【24h】

ZnOバリスタの結晶方位と課電劣化の関係

机译:ZnO变阻器晶体取向与修复劣化的关系

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摘要

ZnOバリスタの非線形なV-I特性は粒界にできる対称二重ショットキ障壁を基本モデルとして考えられている。このV-I特性は,電圧を印加するごとに課電劣化を起こし非線形性を失う。その原因として,電圧印加による電界により酸素イオンが粒界を移動することで,粒界付近で電子·正孔が再分布し,また添加不純物原子の原子価および界面準位が変化し,そのため粒界の対称二重ショットキ障壁に歪みが生じるためと考えられている。これまでZnOバリスタへ微量のSb_2O_3添加することによりZnO粒子の粒成長抑制効果および双晶構造が形成されることが報告されている。しかし,課電劣化と粒界に面するZnOの方位およびZnOの双晶構造に関する研究はされていない。本研究では,Sb_2O_3添加ZnOバリスタのZnOの結晶方位と双晶への影響を調べそれに伴う課電劣化に関する検討を行った。
机译:ZnO变阻器的非线性V-I特性被认为是可以是晶界的基本模型。该V-I特性导致非线性由于每次施加电压时施加电压而导致的非线性。作为一个原因,氧离子移动通过该电场通过施加电压,以使电子和空穴附近的晶界重新分配,并且使添加的杂质原子变化的化合价和接口电平,晶粒可以认为,发生失真在对称的双重射击世界的覆盖范围。以前据报道,通过将少量加入ZnO压敏电阻,通过将少量的Sb_2O_3加入ZnO变阻器形成谷粒生长抑制作用和ZnO颗粒的双结构。然而,一直存在对ZnO面临的晶界和ZnO双结构的方向没有研究。在这项研究中,我们研究了ZnO的抗氧化锌晶体取向压敏电阻和对ZnO双胞胎的影响,并检查所涉及的排放恶化。

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