机译：界面尺寸，衬底掺杂和/ splα/颗粒诱导的电荷收集的能量依赖性的统一模型
机译：多节点电荷收集的物理特性及其对单事件表征和软错误率预测的影响
机译：在半导体存储器中模拟α粒子引起的加速软错误率
机译：用于/ spl alpha /粒子撞击的高密度内存中电荷收集和软错误率预测的测试工具
机译：高密度动态随机存取存储器阵列中由α粒子引起的软错误的分析。
机译：认知测试可预测现实世界中的错误：基于实验室的记忆和知觉测试中的药品名称混淆率与大型药房链中相应的错误率之间的关系
机译：蒙特卡罗仿真中子，质子，离子和α粒子涉及高级记忆中的软误差
机译：重宇宙线和α粒子产生的软错误和氧化损伤的几何分析
