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【24h】

Direct Determination Of The Electron Mobility In Photorefractive BiI/sub 2/SiO/sub 20/ By A Holographic Technique

机译：通过全息技术直接测定光折射型BII / SUB 2 / SUM 20 / SIO / SUB 20中的电子迁移率

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来源
《Conference on Nonlinear Optics》|1990年||共2页
会议地点
作者
Partanen J.P.; Jonathan J.M.C.; Institute of Electric and Electronic Engineer;
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正文语种
中图分类自动化技术、计算机技术;
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