degradation; corrosion; temperature;
机译:铝金属化热超声Pd包覆的Cu引线键合中的界面演变和键合可靠性:钯分布的影响
机译:镀钯铜丝焊接过程中FAB形成过程中钯的分布机理
机译:使用可移动火焰电极在Pd包覆的Cu键合引线的自由球中的Pd分布更均匀
机译:在各种引线框架电镀方案中,裸露的铜线和涂钯的铜线中2 sup>键的进一步表征
机译:镀银和镍/钯基引线框架镀层表面处理的二次引线键合完整性的评估。
机译:微电子封装中AuPd包覆的Cu和Pd掺杂的Cu线的比较可靠性研究和分析
机译:用Sn镀层Cu衬底粘合界面结构