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Radiation effects in VLSI Ferroelectric Random Access nonvolatile Memory

机译:VLSI铁电随机接入非易失性存储器的辐射效应

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摘要

The results of experimental researches of radiation resistance of VLSI Ferroelectric Random Access nonvolatile Memory (FRAM) at influence of gamma-irradiation Co60 are submitted.
机译:提交了γ-辐照CO 60 影响VLSI铁电随机接入非易失性存储器(FRAM)的辐射性实验研究结果。

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