March algorithm; Transparent memory testing; Memory BIST; Dynamic power supply current;
机译:嵌入式SRAMS中内置自检和自诊断的选择性算法
机译:使用动态电源电流的SRAM透明测试方法
机译:使用动态电源电流的SRAM透明测试方法
机译:DPSC SRAM透明测试算法
机译:嵌入式SRAM的时间驱动测试方法。
机译:泛素/ 26S蛋白酶体系统介导拟南芥中类黄酮调节剂TRANSPARENT TESTA8和TRANSPARENT TESTA GLABRA1的蛋白水解降解。
机译:独特的March测试算法,用于在SRAM中扩展实际内存错误
机译:集成干燥NO(sub x)/ sO(sub 2)排放控制系统:先进的可伸缩注射枪sNCR测试报告。 NOELL aRIL测试期:1995年4月20日 - 1995年12月21日; DpsC测试期:1996年8月16日至26日