机译:使用扫描抗扩散显微镜和扫描电容显微镜,在高真空中分析载体分析
机译:ZnO / ZnO:Sb核壳纳米线的截面成像和p型掺杂评估的扫描电容显微镜和扫描扩展电阻显微镜
机译:使用校准的扫描扩展电阻显微镜和扫描电容显微镜对太赫兹量子级联激光器中的载流子进行二维轮廓分析
机译:使用扫描电容显微镜和扫描扩散显微镜,在绝缘体主体上导致绝缘体主体的根部导致失效。
机译:使用扫描扩展电阻显微镜对III-V型化合物半导体掺杂剂进行分析。
机译:滑液中的含硅颗粒:扫描电子显微镜与分析技术相结合可以轻松识别和区别于病理相关的晶体。
机译:双镜片电子全息,扫描电容显微镜(SCM),扫描抗膨胀电阻显微镜(SSRM)比较半导体2-D结表征