首页> 外文会议>Conference on optoelectronic and electronic sensors >Spectral dependence of main parameters of ITE silicon avalanche photodiodes
【24h】

Spectral dependence of main parameters of ITE silicon avalanche photodiodes

机译:ITE Silicon Avalanche光电二极管主要参数的光谱依赖性

获取原文
获取外文期刊封面目录资料

摘要

New applications for avalanche photodiedes (APDs), as in systems using visible radiation, have prompted the need for the evaluation of detection properties of ITE APDs in the 400÷700 nm spectral range. The paper presents the method and results of studies on the spectral dependence of the gain, dark and noise currents, sensitivity and excess noise factor of ITE APDs. The studies have shown that ITE APDs optimised for the near infrared radiation (800 ÷ 850 nm) can be effectively applied in the detection of radiation above the 500 nm wavelength.
机译:如使用可见辐射的系统在系统中,雪崩照相电解(APDS)的新应用促使需要在400÷700nm光谱范围内评估ITE APDS的检测性能。本文介绍了对增益,暗和噪声电流,敏感性和艾米APDS的过度噪声系数的光谱依赖性的方法和结果。研究表明,对于近红外辐射(800÷850nm)优化的ITE APD可以有效地应用于500nm波长高于500nm波长的辐射中。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号