机译:高k金属氧化物半导体场效应晶体管中等离子体充电损伤引起的阈值电压变化的解析模型
机译:有源层厚度对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压不稳定性的影响
机译:沉积后退火对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压稳定性的影响的研究
机译:等离子体损坏的CMOS晶体管中的阈值电压下降-与电荷损坏相关的电子和空穴陷阱的作用
机译:电子和孔陷阱的电子顺磁共振研究与Ktiopo(4)中的光学损伤相关
机译:带有原子层沉积ZnO电荷陷阱层的非晶In-Ga-Zn-O薄膜晶体管存储器的电压极性相关编程行为
机译:自组装单分子层的电荷陷阱是有机场效应晶体管阈值电压漂移的根源