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周怀安; 杜正伟; 龚克;
清华大学,电子工程系,微波与数字通信技术国家重点实验室,北京,100084;
2维器件数值模拟; 电磁脉冲; 双极型晶体管; 烧毁;
机译:绝缘栅双极型晶体管(IGBT)的累积静电放电(ESD)损坏的测试方案和退化模型
机译:基于累积电荷修正的注入增强型绝缘栅双极型晶体管浮基效应的紧凑模型
机译:从已知方向和损坏的点对应关系确切地同时恢复位置和结构
机译:CMOS兼容双极型晶体管中栅极感应注入势垒调制的分析理论
机译:位置,位置,位置:三个多中心城市区域(德克萨斯州)中多户型房地产表现与位置之间的关系。
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机译:来自加利福尼亚州北部纽约红木森林中的切割到长度稀疏操作损坏的损坏的数量和位置
机译:金刚石的离子注入:损坏,掺杂和剥离
机译:用于通过强电磁脉冲保护电子设备损坏的方法和设备。
机译:损坏的位置确定设备,包含该位置的损坏的位置确定系统以及损坏的位置确定方法和程序
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