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机译:沉积后退火对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压稳定性的影响的研究
OFET; Copper phthalocyanine; Annealing; Threshold voltage stability;
机译:沉积后退火对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压稳定性的影响的研究
机译:有源层厚度对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压不稳定性的影响
机译:沟道长度影响空穴和电子俘获效应对有机场效应晶体管中阈值电压稳定性的影响
机译:等离子体损坏的CMOS晶体管中的阈值电压下降-与电荷损坏相关的电子和空穴陷阱的作用
机译:电荷陷阱对高k栅极堆叠中的迁移率和阈值电压不稳定性产生影响。
机译:调整电解质门控有机场效应晶体管中的阈值电压
机译:自组装单分子层的电荷陷阱是有机场效应晶体管阈值电压漂移的根源
机译:辐照和等时退火温度对mOs器件中空穴和电子俘获的影响