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戚辉; 郭鹏; 张雪华; 丁星星; 张莹; 李梦;
中原工学院,郑州450007;
有机场效应晶体管; 并五苯; 阈值电压漂移; 热处理;
机译:沟道长度影响空穴和电子俘获效应对有机场效应晶体管中阈值电压稳定性的影响
机译:有源层厚度对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压不稳定性的影响
机译:沉积后退火对有机场效应晶体管中空穴和电子陷阱对阈值电压稳定性的影响的研究
机译:通过监测载流子移动基于有机场效应晶体管的基于有机场效应晶体管的基线稳定性
机译:阈值电压不稳定性对碳化硅mosfet可靠性的原因和影响
机译:调整电解质门控有机场效应晶体管中的阈值电压
机译:界面偶极子:对非晶和多晶有机场效应晶体管的阈值电压和迁移率的影响
机译:a-si:H TFTs中的阈值电压不稳定性及其对柔性显示器和电路的影响
机译:控制有机场效应晶体管的阈值电压的方法
机译:失调阈值电压的有机场效应晶体管及其用途
机译:具有偏置阈值电压的有机场效应晶体管及其用途
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