Switches; Insertion loss; Electrostatic discharges; Propagation losses; CMOS process; Loss measurement; Switching circuits;
机译:输入P1dB大于40dBm的堆叠式FET线性SOI CMOS SPDT天线开关
机译:高度线性和高效的28-GHz PA,PSAT为23.2 dBm,P1 dB,22.7 dBm,65-NM散装CMOS的PAE为35.5%
机译:采用可切换谐振器概念的65nm CMOS中的220–285 GHz SPDT开关
机译:28GHz SPDT TRX开关,在22nm SOI CMOS中为9kV ESD保护,适用于5G手机
机译:基于65 nm CMOS的数字延迟锁定环的2 GHz倍频器
机译:使用65 nm CMOS技术单片集成的CMOS-NEMS铜开关
机译:1.5至5.0GHz输入匹配+ 2dBm p1dB全无源开关电容波束成形接收器前端采用65nm CmOs封装