首页> 外文会议>マグネティックス研究会 >スパッタ法によるZnとAZOによる二層膜の検討
【24h】

スパッタ法によるZnとAZOによる二層膜の検討

机译:溅射法用Zn和AZO检查双层膜

获取原文

摘要

Ⅲ族元素をドープしたZnOの薄膜は,低抵抗の膜となることから,ITO薄膜に代わる透明導電膜用材料として注目されている。そこで本研究室ではこれまで,ZnOに数wt.%のAlを添加したAZO焼結体ターゲットを用い,スパッタ法により,AZO薄膜の検討を行ってきた。しかし,8×10~(-4)Ω·cmより小さい抵抗率のAZO薄膜を得ることができなかった。そこで本検討では,DC放電によるマグネトロンスパッタ法を用いて,基板上にZn膜を堆積レ,その上にAZO薄膜を堆積する方法にて,AZO膜にZnを取り込ませる方法にて,AZO薄膜の抵抗率の低下の検討を行った。その結果,Zn膜を堆積した後,基板温度を室温から上昇させたときに,基板からZn膜のほとhどが剥離してしまレ、,AZO膜にZnを取り込ませることは困難であると考えられ,この方法では,膜の抵抗率を低下させることができないことが分かった。
机译:掺杂有第III族元素的ZnO薄膜作为透明导电膜的材料吸引了人们的注意,因为它们是低电阻膜,因此可以代替ITO薄膜。因此,在我们的实验室中,我们一直在使用AZO烧结靶材通过溅射研究AZO薄膜,在该靶材中,向ZnO中添加了几个wt%的Al。但是,不可能获得电阻率小于8×10〜(-4)Ω·cm的AZO薄膜。因此,在本研究中,使用了通过使用DC放电的磁控溅射法在基板上沉积Zn膜的方法以及在基板上沉积AZO薄膜的方法,并且将Zn掺入到AZO膜中的方法是我们检查了电阻的降低。结果,在沉积Zn膜之后,当基板温度从室温升高时,大部分Zn膜从基板上剥离,并且难以将Zn结合到AZO膜中。不会降低薄膜的电阻率。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号