首页> 外文会议>Electron Devices Meeting, 1994. IEDM '94. Technical Digest., International >A relaxation time approach to model the non-quasi-static transienteffects in MOSFETs
【24h】

A relaxation time approach to model the non-quasi-static transienteffects in MOSFETs

机译:松弛时间方法来模拟非准静态瞬变MOSFET中的效应

获取原文

摘要

A relaxation time approach is used to model the non quasi-staticeffect of MOS circuits in transient analysis. Unlike the existingquasi-static models, the new model takes care of the finite chargingtime of the channel to reach equilibrium instantaneous channel chargere-distribution, and velocity saturation, giving more realistic andaccurate results. The model has been implemented in SPICE and thesimulation time penalty is less than 50%
机译:使用弛豫时间方法对非准静态进行建模 瞬态分析中MOS电路的影响。与现有的不一样 准静态模型,新模型负责有限充电 通道达到平衡瞬时通道电荷的时间 重新分布和速度饱和,使逼真度更高 准确的结果。该模型已在SPICE中实现,并且 模拟时间损失小于50%

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号