Degradation; Human computer interaction; Integrated circuit modeling; Logic gates; Mathematical model; Reliability; Velocity measurement; HCI; NBTI; circuit lifetime prediction; lifetime prediction; poly depletion; trapping charge effect;
机译:硅集成电路的腐蚀和可植入电子设备中的寿命预测
机译:具有多种故障机制的微电子设备和系统的寿命预测的粒子滤波方法
机译:从空穴能量的角度检查负偏压温度应力引起的降解机理,以准确预测寿命
机译:BTI和HCI压力装置寿命预测方法的新视角及其对电路寿命的影响
机译:深度余下MOS装置和电路长期退化和寿命的建模与仿真
机译:用于电子设备寿命预测的初始参数信息的表征
机译:植入电子设备中硅集成电路的腐蚀和终身预测
机译:具有线宽的铝电迁移寿命变化:应力条件变化的影响(集成电路的金属化)