Testing; Circuit faults; Vehicle dynamics; Probes; Integrated circuits; Industries;
机译:基于系数的模拟电路测试中的缺陷级别和故障覆盖率
机译:基于系数的模拟电路测试中的缺陷级别和故障覆盖率
机译:省略测试向量,以改善功能测试序列的故障覆盖率
机译:模拟故障覆盖使用最终测试动态部分平均测试改进
机译:协议测试层次结构,最大的故障覆盖率和故障诊断。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:线性模拟电路测试中缺陷级别和故障覆盖率的界限
机译:CmOs IC故障模型,物理缺陷覆盖和I(子DDQ)测试。