首页> 外文会议>IEEE Radiation Effects Data Workshop >Single Event Effects Testing of the Hardened Texas Instruments MSP430FR5739 Microcontroller on with Embedded Ferroelectric Memory
【24h】

Single Event Effects Testing of the Hardened Texas Instruments MSP430FR5739 Microcontroller on with Embedded Ferroelectric Memory

机译:具有嵌入式铁电存储器的硬化德州仪器(TI)MSP430FR5739微控制器的单事件效果测试

获取原文

摘要

MSP430FR55739 tests at the Lawrence Berkeley National Laboratory (LBNL) Cyclotron used the Milli-Beam apparatus to restrict exposure to specific blocks. Instruction lockstep techniques were employed to synchronize test unit outputs with an unexposed device. In this paper, we present cross-sections for the device and functional blocks.
机译:MSP430FR55739在劳伦斯伯克利国家实验室(LBNL)的测试用毫光束装置限制了特定块的暴露。使用指令锁定技术用于将测试单元输出与未曝光设备同步。在本文中,我们为设备和功能块提供了横截面。

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号