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嵌入式软件的单参数事件序列测试数据生成方法

摘要

嵌入式软件的单参数事件序列测试数据生成方法,涉及一种嵌入式软件的测试数据生成方法。本发明为了解决现有的嵌入式软件测试系统测试数据的生成方法没有考虑数据的时序问题和测试数据非常庞大问题。本发明首先生成初始的包含所有的t维事件交互集合Q,初始化测试数据覆盖向量V为空;在Q中随机挑选1条候选t维事件交互,加入测试数据覆盖向量V中,同时在Q中删除该t维事件交互;然后在Q中取一条适应值最大的t维事件交互追加到向量V的尾部,并在Q中删除所有被向量U覆盖的t维事件交互;直至Q为空,输出测试数据覆盖向量V,测试数据覆盖向量V中的数据及顺序就是生成的单参数事件序列测试数据。本发明适用于嵌入式软件的测试数据生成。

著录项

  • 公开/公告号CN106095692B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-07-03

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201610663751.0

  • 发明设计人 魏长安;孙超;盛云龙;姜守达;

    申请日2016-08-12

  • 分类号

  • 代理机构哈尔滨市松花江专利商标事务所;

  • 代理人杨立超

  • 地址 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2022-08-23 10:13:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-03

    授权

    授权

  • 2016-12-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F11/36 申请日:20160812

    实质审查的生效

  • 2016-11-09

    公开

    公开

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