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薄型基板に形成したマイクロ波回路の銅箔の表面粗さに対する導体損失に関する実験的検討

机译:薄基材中形成微波电路铜箔表面粗糙度的实验研究

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摘要

本稿では,薄型基板を用いたマイクロ波回路について,誘電体基板と銅箔の接合面における銅箔の表面粗さによる回路の特性への影響を実験的に検討した.マイクロ波回路の一例としてマイクロストリップ線路の伝送損失及びマイクロストリップアンテナの特性を評価した.同じ誘電体基板に無粗化,低粗度および標準銅箔を用いて構成した薄型基板を製作し,各銅箔におけるマイクロストリップ線路の伝送損失を評価した結果,無粗化銅箔の伝送損失は標準銅箔に比べて半分以下であった.次に,伝送損失の測定結果から各基板の実効比導電率を推定し,その結果を基にマイクロストリップアンテナを設計し,試作実験を行った.その結果,表面粗さによる導体損の増加により動作帯域幅が広がることを確認した.さらに,試作したアンテナの利得を測定したところ,表面粗さによって利得が約 3.6dB変化することがわかった.
机译:在本文中,我们通过薄基板对电介质基板的结表面的表面粗糙度和微波电路上的铜箔上的铜箔的表面粗糙度进行了实验检查了对电路特性的影响。微波电路作为微波电路。微波电路的示例评估了条带线的传输损耗和微带天线的特性。相同的电介质基板粗糙化,制造由低压或标准铜箔制成的薄基板,并且每个铜箔中的微带线由于评估传输损耗,粗糙的铜箔的传输损失是标准铜箔的一半或小。接下来,从传输损耗的测量结果估计每个基板的有效比率,结果是获得的。基于,进行微带天线,并进行试验实验。结果,证实了由于表面粗糙度导致导体损耗的增加而产生的操作带宽。此外,当增益时测量原型天线,发现增益根据表面粗糙度变化约3.6dB。

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