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【24h】

薄型基板に形成したマイクロ波回路の銅箔の表面粗さに対する導体損失に関する実験的検討

机译:薄基板上形成的微波电路的导体损耗相对于铜箔表面粗糙度的实验研究

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摘要

本稿では,薄型基板を用いたマイクロ波回路について,誘電体基板と銅箔の接合面における銅箔の表面粗さによる回路の特性への影響を実験的に検討した.マイクロ波回路の一例としてマイクロストリップ線路の伝送損失及びマイクロストリップアンテナの特性を評価した.同じ誘電体基板に無粗化,低粗度および標準銅箔を用いて構成した薄型基板を製作し,各銅箔におけるマイクロストリップ線路の伝送損失を評価した結果,無粗化銅箔の伝送損失は標準銅箔に比べて半分以下であった.次に,伝送損失の測定結果から各基板の実効比導電率を推定し,その結果を基にマイクロストリップアンテナを設計し,試作実験を行った.その結果,表面粗さによる導体損の増加により動作帯域幅が広がることを確認した.さらに,試作したアンテナの利得を測定したところ,表面粗さによって利得が約3.6dB変化することがわかった.
机译:在本文中,对于使用薄基板的微波电路,实验研究了铜箔在电介质基板和铜箔之间的接合面上的表面粗糙度对电路特性的影响。作为微波电路的示例,评估了微带线的传输损耗和微带天线的特性。通过在同一电介质基板上制造由非粗糙,低粗糙度和标准铜箔组成的​​薄基板,并评估每个铜箔中微带线的传输损耗,可以得出非粗糙铜箔的传输损耗不到标准铜箔的一半。接下来,从传输损耗的测量结果估计每个基板的有效比电导率,并且基于该结果,设计微带天线并进行原型实验。结果,确认了由于表面粗糙度引起的导体损耗的增加,工作带宽增加。此外,当测量原型天线的增益时,发现根据表面粗糙度,增益变化了约3.6dB。

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