机译:背栅偏置应力对极薄SoI(ETSoI)MOSFET器件特性的影响
机译:超薄SOI(ETSOI)MOSFET可扩展至20nm以下栅极长度
机译:Hf-Ti-O薄膜作为高k栅介质的研究及其在ETSOI MOSFET中的应用
机译:观察沟槽门控n沟道MOSFET的高温反向偏置应力期间发生的寄生p沟道MOSFET的负偏置温度不稳定性
机译:将超薄(1.6-2.0 nm)RPECVD堆叠的氧化物/氮氧化物栅极电介质集成到双多晶硅栅极亚微米CMOSFET中。
机译:超薄Hf-Ti-O高k栅介电薄膜的电学特性及其在ETSOI MOSFET中的应用
机译:超薄Hf-Ti-O高k栅介电薄膜的电学特性及其在ETSOI MOSFET中的应用