Annealing; P-i-n diodes; Temperature dependence; Temperature distribution; Temperature measurement; 4H-SiC; Arrhenius plot; ion-implantation; p-i-n diode; recombination-generation centers;
机译:热退火对Au / n-InP / In肖特基二极管的温度相关电流电压特性(I-V-T)的影响
机译:快速热退火对4H-SiC肖特基二极管电流-电压特性的影响
机译:大剂量注入磷的4H-SiC:微波和常规注入后退火温度> = 1700摄氏度
机译:微波退火的温度依赖电流 - 电压特性Al + sup>植入的4h-siC p + sup> -i-n二极管
机译:模拟许多谷电子散射对谐振隧穿二极管的电流-电压特性的影响。
机译:退火气氛对Ga2O3 / 4H-SiC n-n异质结二极管特性的影响
机译:au / V2O5 / n-si肖特基二极管的温度相关电流 - 电压和电容 - 电压特性分析