AlGaN/GaN HEMTs; thermal management; reliability; interfaces; benchmarking;
机译:SiC衬底上的AlGaN / GaN HEMT中的热边界电阻基准测试:成核层微结构的含义
机译:衬底和热边界电阻对通过电热蒙特卡洛模拟分析的AlGaN / GaN HEMT性能的影响
机译:AlGaN / GaN HEMT的热建模和测量,包括热边界电阻
机译:Algan / GaN Hemts Gan-SiC界面热界阻力的基准:美国,欧洲和日本供应商
机译:GaN-SiC界面处具有GaN微坑的AlGaN / GaN HEMT中的散热分析
机译:使用AlGaN / GaN / AlGaN量子阱电子阻挡层的AlGaN / GaN HEMT中的高击穿电压
机译:栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由低频噪声和脉冲电测量证明,栅极漏电流对alGaN / GaN HEmT的影响由脉冲I-V和低频噪声测量证明
机译:si,GaN和alGaN / GaN高电子迁移率晶体管(HEmT)晶片的非接触迁移率,载流子密度和薄层电阻测量。