机译:倒装芯片封装中超低$ k $互连的结构优化改善了芯片-封装相互作用和可靠性
机译:具有聚合物封装的划片线(PEDL)和铜柱互连的150μm节距Cu / Low-k倒装芯片封装
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机译:倒装芯片封装中Cu / Low-K多层互连芯片封装相互作用与机械可靠性的研究
机译:倒装芯片封装的铜/低k互连结构中低k电介质的界面粘附和亚临界剥离。
机译:灵活的芯片刻度封装和互连的植入MEMS可移动微电极进行大脑
机译:工艺引起的应力和芯片封装相互作用对气隙互连可靠性的影响
机译:极端低温(-190摄氏度和-120摄氏度)下高级倒装芯片互连电子封装组件的可靠性评估