SILC; TDDB; high-k dielectrics; metal gate; oxygen vacancies;
机译:在正向和反向沟道热载流子应力下,电荷俘获引起的高k /金属栅极n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中不同的漏极诱导势垒降低变化的物理理解
机译:在正向和反向沟道热载流子应力下,电荷俘获引起的高k /金属栅极n沟道金属氧化物半导体场效应晶体管中不同的漏极诱导势垒降低变化的物理理解
机译:具有高k /金属栅叠层的n-MOSFET中电荷陷阱引起的频率相关性下降
机译:电荷俘获对金属栅/高k n沟道MOSFET中TDDB电压加速的影响
机译:电荷陷阱对高k栅极堆叠中的迁移率和阈值电压不稳定性产生影响。
机译:分立工程用于嵌入式硅控整流器的高压60V n沟道横向扩散MOSFET的瞬态传感和可靠性改善。
机译:接口陷阱电荷对无线双金属栅极高k门的影响纳米线FET基于Alzheimer Biosensor