Alpha particle; Neutron; SE; SEE; hardened; heavy ion; mitigation; proton; single event effects; soft errors; space; terrestrial;
机译:一种有效的顺序数字电路设计,可减少纳米级CMOS技术中的软错误
机译:在工艺变化的情况下,针对纳米级CMOS技术的低成本软错误硬化锁存器设计
机译:先进半导体技术中的辐射诱发的软错误
机译:先进的块状CMOS技术中硬化顺序元素的辐射诱发的软错误性能
机译:批量CMOS中未硬化和硬化触发器的单事件翻转技术缩放趋势
机译:使用I3T25 CMOS技术开发的有源元件设计信号发生器用于单路IC封装实现照度到频率的转换
机译:高级CmOs技术中硬化时序元件辐射诱导软错误性能研究
机译:辐射强化的大容量CmOs技术