photoluminescence; defects; synchrotron white beam x-ray topography; low angle grain boundary;
机译:基切碳化硅单晶晶片的同步加速器白光束X射线形貌背反射图像的谐波成分
机译:在4H碳化硅中使用同步加速器白束X射线形貌直接确定闭芯螺纹螺钉错位的位错感
机译:同步带隙白光X射线形貌,透射电子显微镜和高分辨率X射线衍射研究宽带隙半导体晶体和薄膜中的缺陷和应变松弛过程
机译:大面积碳化硅晶片中的光致发光缺陷映射及其与同步白光X射线形貌的相关性
机译:同步加速器白束X射线形貌分析宽带隙半导体单晶的缺陷
机译:同步加速器应用的碳化硅X射线束位置监控器
机译:利用微拉曼光谱和白光束同步辐射X射线光谱分析纳米压痕引起的硅片损伤
机译:使用能量色散X射线衍射和同步辐射白光束X射线形貌研究V / sub 3 / O / sub 5中的相变