首页> 外文会议>Reliability Physics Symposium, 2005. Proceedings. 43rd Annual. 2005 IEEE International >Design on power-rail esd clamp circuit for 3.3-V I/O interface by using only 1-V/2.5-V low-voltage devices in a 130-NM CMOS process
【24h】

Design on power-rail esd clamp circuit for 3.3-V I/O interface by using only 1-V/2.5-V low-voltage devices in a 130-NM CMOS process

机译:在130NM CMOS工艺中仅使用1-V / 2.5-V低压器件设计用于3.3-V I / O接口的电源轨esd钳位电路

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