ball grid arrays; copper alloys; failure analysis; lead alloys; life testing; optical microscopes; printed circuits; reflow soldering; silver alloys; solders; tin alloys; 210 C; 225 C; 235 C; ENIG; PBGA; SnAgCu; SnPb; accelerated thermal cycling; failure analysis; hot air s;
机译:低温焊接SN-AG-CU / SN-Bi-X混合BGA焊点用于消费电子产品的板级降低性和断裂行为
机译:电迁移过程中Sn-Pb,Sn-Ag-Cu-Pb无铅和混合Sn-Ag-Cu / Sn-Pb焊点的界面行为
机译:电解Ni BGA衬底上无铅Sn-Ag-Cu焊料的IMC形态,界面反应和接头可靠性
机译:共晶Pb-Sn焊料糊料中附着的Sn-Ag-Cu BGA成分的焊料接头可靠性
机译:使用BGA封装的焊点可靠性评估:Megtron 6与FR4印刷电路板的跌落测试
机译:锡膏合金的可靠性研究以改善表面安装细间距元件的焊点
机译:用Sn-Ag-Bi-in焊料焊接性能和界面微观结构BGA焊点
机译:sn-pb焊料/ Cu系统的微观结构观察及焊点的热疲劳