flash memories; semiconductor device reliability; semiconductor device models; statistical modeling; post-cycling data retention; split-gate flash memories; floating-gate potential; measured bit-cell-current data; floating gate charge leakage mechanism; multiple leakage mechanisms; stack-gate flash memories; post-cycling data retention failure bits;
机译:统计模型,用于分离门闪存的后循环数据保留
机译:使用电压加速方法对分隔门闪存的高效低温数据保留寿命预测
机译:栅极应力对分栅闪存的低温数据保留特性的影响
机译:分裂门闪存后循环数据保留的统计建模
机译:关于优化分裂栅闪存单元的设计。
机译:结合序列和二级结构数据的寡核苷酸色谱保留建模的统计学习方法
机译:1 mLC NaND闪存中的数据保留:表征,优化和恢复