机译:统计模型,用于分离门闪存的后循环数据保留
charge injection; flash memories; hot carriers; integrated circuit reliability; integrated memory circuits; channel hot electron injection; charge-gain behavior; data-retention lifetime; floating-gate potential extraction method; lifetime-prediction model; low-tem;
机译:使用电压加速方法对分隔门闪存的高效低温数据保留寿命预测
机译:栅极应力对分栅闪存的低温数据保留特性的影响
机译:改善分流栅闪存数据保留的有效方法
机译:统计模型,用于分离门闪存的循环后数据保留
机译:关于优化分裂栅闪存单元的设计。
机译:结合序列和二级结构数据的寡核苷酸色谱保留建模的统计学习方法
机译:1 mLC NaND闪存中的数据保留:表征,优化和恢复