MOSFET; semiconductor device measurement; semiconductor device models; thermal stability; thermal stresses; negative bias temperature instability; PMOSFET; post-stress NBTI recovery; stress voltage; stress time; stress temperature; degradation mechanism;
机译:体偏置对具有SiON栅极电介质的pMOSFET中负偏置温度不稳定性的影响
机译:具有低温Si2H6钝化功能的锗PMOSFET具有高空穴迁移率和出色的负偏置温度不稳定性
机译:负偏置温度不稳定性下纳米SiON pMOSFET功率定律参数的提取方法
机译:负偏置温度不稳定的普遍恢复行为
机译:二氧化硅和基于等离子体氮化的氧化物的pMOSFET的负偏置温度不稳定性所涉及的原子尺度缺陷。
机译:光激励对insnzno厚度变化薄膜晶体管漏电流和负偏置不稳定性的影响
机译:表征pmOsFET的负偏压温度不稳定性和寿命预测