机译:薄氧化物n-MOSFET中热载流子应力引起的漏极泄漏电流退化的综合研究
机译:在沟道热载流子/栅极引起的漏极泄漏交替应力作用下,具有高k /金属栅叠层的n-MOSFET的增强降解
机译:n-MOSFET在沟道热电子应力期间栅诱导的漏极泄漏电流退化及其时间依赖性
机译:电压缩放和温度效应在热载波中的漏极漏电流降解应力N-MOSFET
机译:SOI MOSFET的漏极泄漏和热载流子可靠性。
机译:了解温度和漏极电流应力在具有不同有源层厚度的InSnZnO TFT中的作用
机译:8ÅEOT HfO2 N-MOSFETS随时间变化的介电击穿和应力引起的漏电流特性