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【24h】

A proposal for improving cutoff-frequency breakdown-voltage products of HEMTs

机译:改善HEMT的截止频率击穿电压产物的建议

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摘要

The breakdown-voltage cutoff-frequency product gives a figure of merit of FETs/HEMTs. This paper studies it from a view point of energy-bandgaps of channel materials, and proposes a bandgap engineered device for improving the product. V/sub B//spl middot/f/sub T/ of an InGaAs HEMT can be doubled by introducing a (InGaAs to InP) graded composition zone.
机译:击穿电压截止频率乘积给出了FET / HEMT的品质因数。本文从通道材料的能带隙角度对其进行了研究,并提出了一种带隙工程设计的器件来改善产品。 InGaAs HEMT的V / sub B // spl中点/ f / sub T /可以通过引入(从InGaAs到InP)渐变的组分区域来加倍。

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