机译:栅极电流R.T.S.对45 nm MOS晶体管的氧化物陷阱表征。噪声测量
机译:通过低频噪声表征分析衬底偏置对无结纳米线晶体管中界面俘获电荷的影响
机译:低频噪声测量表征非晶态InGaZnO薄膜晶体管中大电流应力诱发的不稳定性
机译:基于噪声和电流漂移测量的金属 - 绝缘INP晶体管接口陷阱的频率,能量和空间分辨表征
机译:从界面陷阱处复合电流的线形中提取亚微米MOS晶体管中的沟道杂质浓度分布
机译:基于硅纳米线的场效应晶体管中泄漏电流的快速频域表征方法
机译:使用跨阻放大器测量SiGe异质结双极晶体管中的低频基极和集电极电流噪声和相干性