双极晶体管的1/f噪声参数f_L和γ的测量提取——噪声电流谱测量法

摘要

晶体管低频噪声主要是1/f噪声,其参数f_L和r的测出,不仅对低频低噪声设计,而且对于研究半导体噪声机理以及应用它来分析半导体内部缺陷或表面清洁处理情况都有着重要意义。本文给出了双极晶体管的1/f噪声参数的测量方法、系统及实例,获得了已有噪声测量系统所不能给出的参数。