机译:氢注入损伤对硅上转移的InP / InGaAs / InP p-i-n光电二极管性能的影响
机译:低能硼注入的硅中残留的电活性损伤:快速热退火和注入质量效应
机译:迁移能量提取和植入物损伤对GA2O3氘热稳定性的作用
机译:INP中的植入损伤:热稳定效应
机译:砷化镓晶体生长中缺陷,杂质和载体的特征及其对电性能,热稳定性和注入退火特性的影响。
机译:种植体长度和3D骨-种植体接触对牙科种植体初始稳定性的影响:微计算机断层扫描研究
机译:通过对Mg或Mg / P注入的InP进行快速热退火而制造的p(+)-n结中的深能级
机译:离子注入诱导损伤在Inp中电子器件制造中的应用。