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Magnetic microscopy for ICs failure analysis : comparative case studies using SQUID, GMR and MTJ systems

机译:用于IC故障分析的电磁显微镜:使用SQUID,GMR和MTJ系统的比较案例研究

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摘要

Magnetic field based techniques have shown great capabilities for investigation of current flows in ICs. After reviewing the performances of SQUID, GMR (hard disk head technologies) and MTJ existing sensors, we present results obtained on various case studies. This comparison shows the benefit of each approach according to each case study (packaged devices, flip-chip circuits,...). Finally we discuss the obtained results to classify current techniques, optimal domain of applications and advantages.
机译:基于磁场的技术已显示出强大的能力,可以研究IC中的电流。在回顾了SQUID,GMR(硬盘磁头技术)和MTJ现有传感器的性能后,我们介绍了在各种案例研究中获得的结果。这种比较显示了根据每个案例研究(封装的器件,倒装芯片电路等)的每种方法的好处。最后,我们讨论所获得的结果以对当前技术,最佳应用领域和优势进行分类。

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