Atomic layer deposition; Soldering; Substrates; Morphology; Packaging; Electronics packaging; Scanning electron microscopy;
机译:回流时间对Sn-0.7Cu焊料/ Cu和化学镀Ni-P EGA接头的界面反应和剪切强度的影响
机译:Ni(Au / Ni / Cu)-SnAg-Cu焊点中的界面反应在回流焊和热时效过程中的相互作用
机译:Ni(Au / Ni / Cu)-SnAg-Cu焊点中的界面反应在回流焊和热时效过程中的相互作用
机译:多重回流下SN-0.7CU / Cu焊料中界面反应的尺寸效应
机译:利用实验室规模X射线计算机断层扫描技术对Sn-0.7Cu焊料中的电迁移过程进行量化。
机译:多重回流对Sn-0.5Cu-Al(Si)焊料和Cu基质的界面反应和力学性能的影响
机译:多重回流对Sn-0.5Cu-Al(Si)焊料和Cu基质的界面反应和力学性能的影响