Temperature measurement; Silicon carbide; MOSFET; Logic gates; Temperature dependence; Threshold voltage; Current measurement;
机译:DV / DT撞击对SiC-MOSFET的温度依赖性
机译:商业4H-SiC MOSFET中的V_(TH)亚阈值滞后技术和温度依赖性
机译:在4H-SiC MOSFET中的负偏置温度不稳定性(NBTI)的退火依赖性
机译:SiC MOSFET DI / DT分析及其温度依赖性
机译:使用SiC MOSFET的高温逆变器的外围电路研究。
机译:带有SiC势垒的Si纳米盘紧密堆积排列中时间分辨光致发光的温度依赖性
机译:v亚阈值滞后技术和商业4H-SIC MOSFET中的温度依赖性