Testing; Gallium nitride; Radiation effects; Performance evaluation; Field effect transistors; Logic gates; Voltage control;
机译:总电离剂量辐照对商业增强型AlGaN / GaN高电子迁移率晶体管单事件烧毁的影响
机译:新型2D结构材料:碳氮化镓(CC-GaN)和硼氮化镓(BN-GaN)异质结构-通过密度泛函理论进行材料设计
机译:垂直沟道双栅极nMOSFET中的总电离剂量和单事件效应
机译:INTSIL ISL70040SH镓氮化镓(GaN)FET驱动器的总剂量和单事件效果测试
机译:功率晶体管中的分布效应以及氮化铝镓/氮化镓HFET布局的优化。
机译:复合体系镓氮化镓GaN-氮化镓锡中的新型氮化物纳米粒子
机译:氮化铝镓(GaN)/ GaN高电子迁移率晶体管传感器,用于呼出气冷凝物中的葡萄糖检测