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【24h】

Total Dose and Single-Event Effects Testing of the Intersil ISL70040SEH Gallium Nitride (GaN) FET Driver

机译:Intersil ISL70040SEH氮化镓(GaN)FET驱动器的总剂量和单事件效应测试

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摘要

We report the results of destructive and nondestructive single-event effects and total dose testing of the Intersil ISL70040SEH gallium nitride (GaN) FET driver, with a brief discussion of the part's functionality, electrical specifications and fabrication process.
机译:我们报告了Intersil ISL70040SEH氮化镓(GaN)FET驱动器的破坏性和非破坏性单事件效应以及总剂量测试的结果,并简要介绍了该器件的功能,电气规格和制造工艺。

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